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校 正 指 引
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品质部 □
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生产部 □
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塞尺校正指引
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产品工程部 □
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_____________ □
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指引号码：
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版本
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制 定 日 期
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核 准 日 期
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QI-CAL-007
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C
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陈 平 26-APR-2004
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一．校正环境：
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温度：20±8°C
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湿度：<80% RH
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二．校正工具：
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校正基准件：外校合格之量块和千分表 ( 管理号：B1-001 、QC-001 )。
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三．校正项目：
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1). 外观的检校
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2). 尺片厚度的检校
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四．校正方法：
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1). 外观检校：新制尺片不可有目力观察到的划痕、毛刺、锈斑及其他缺陷等；使用中的允
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许有不影响使用的外观缺陷。
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2). 尺片厚度检校：用量块和千分表比较测量各尺片厚度：
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塞尺片厚度
(mm)
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塞尺片厚度允许偏差（um）
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I级
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II级
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0.02~0.10
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+ 3
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+ 5
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- 3
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- 5
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> 0.10~0.30
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+ 5
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+ 8
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- 5
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- 8
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> 0.30~0.60
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+ 7
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+ 12
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- 7
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- 12
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> 0.60~1.00
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+ 10
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+ 16
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- 10
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- 16
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3). 参考文件：塞尺校正方法参考《国家计量检定规程JJG62-95》
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五．校正周期：
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六个月。
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